使用两个 Anritsu 3652 “K” 校准套件执行了 12 项 SOLT 校准（包括隔离）。每个 3652 套件包含 1 个母开路、1 个母短路、1 个公开路和 1 个公短路校准标准。使用两个套件，可以同时将 2 个母校准标准连接到差分端口 1，以进行每组短路、开路和负载反射校准。

图 2 右侧显示了两个母头和两个公头开路校准标准，它们分别连接到差分测试端口 1 和差分端口 2。 

通过循环短路、开路和负载反射校准标准，可以同时完成端口 1 和端口 2 的校准。 

这种方法消除了在校准期间更换等相位测试端口适配器的需要。

图 2：端口 1 的开路反射校准

只能将一个校准套件的分布参数加载到 MS4644B矢网中。两个校准套件之间的细微差异会导致较小的校准误差。最终校准的质量如下图 3 所示，有源 4 端口测量如图 4 所示，定义的 DUT 如图 5 所示。

图 3：差分校准的直通验证

图 4：有源4端口测量

图 5：定义的DUT

下图 7 比较了两种测试系统获得的测量结果。红色轨迹表示在 4 端口矢网测量系统上收集的数据，蓝色轨迹表示在使用 HL9407 巴伦的情况下在 2 端口矢网系统上收集的数据。

2 端口系统的回波损耗数据噪声较大，右侧图表中用 4.5% 的移动平均值进行了平滑处理。原始数据在下一页的图 8 中显示。端口 1 的回波损耗数据噪声大于端口 2，这可能与校准测量系统的端口 1 中集成的半刚性电缆有关。电缆可能因校准后的扭转和弯曲而变形。

图例：4端口矢网测试曲线 / 2端口矢网+巴伦+衰减器测试曲线 

图 7：测量的差分 S 参数

使用 4 端口测量系统测量的 S21 增益响应明显高于在 2 端口测量系统上测量的 S21。这可以归因于两个因素。首先，4 端口测量系统用于表征不包含任何同轴适配器或电缆的 DUT。相反，2 端口测量系统用于表征包含适配器和电缆的 DUT。其次，如前所述，在校准 4 端口测量系统期间使用的 Thru Update 没有考虑 Anritsu 33VFVF50C 母对母适配器的插入损耗。这两个因素解释了测量的 S21 响应的差异。

图 8：原始回波损耗数据比较

本应用笔记展示了使用Hyperlabs的 HL9407 宽带巴伦和Hyperlabs的 HL9427-10 10dB 衰减器从单端 2 端口矢网获得的精确差分S参数测量。此测量系统是购买矢网多端口测试套件的经济高效的替代方案。值得注意的是，本应用说明中报告的差分S参数只是从 4 端口测量系统获得的完整混合模式S参数的一个子集。除了差分S参数外，4 端口测量系统还能提供共模和模式转换S参数。